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SN54ABT8543规格参数_产品特性_现货出售
245 2023-12-02 17:06:28 来源: 网络 作者: IC先生
带有八进制注册总线收发器的ABT8543扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些器件在功能上相当于F543和ABT543八进制注册总线收发器。测试电路可由TAP激活，对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM八进制注册总线收发器的功能操作。
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每个方向上的数据流由锁存器启用(and)、芯片启用(and)和输出启用(and)输入控制。对于A-to-B数据流，和均为低时，设备工作在透明模式。当or为高时，A数据被锁存。当和都是低电平时，B输出是活动的。当或为高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流的控制类似于A-to-B，但使用、和。
在测试模式下，抑制SCOPETM注册总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路执行IEEE标准1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI)，测试数据输出(TDO)，测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
SN54ABT8543的特点是在-55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABT8543的特点是工作温度从-40°C到85°C。
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SN54ABT8543的特性
- 德州仪器范围的成员TM可测试性产品系列
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
- 功能相当于正常功能模式下的“F543”和“ABT543”
- 范围TM指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需说明，可选的INTEST, CLAMP和HIGHZ
- 具有掩蔽选项的输入并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 偶同位操作码
- 每个I/O两个边界扫描单元，具有更大的灵活性
- 最先进的EPIC-IIBTMBiCMOS设计显著降低功耗
- 封装选项包括塑料小轮廓(DW)和收缩小轮廓(DL)封装，陶瓷芯片载体(FK)和标准陶瓷dip (JT)
范围 and EPIC-IIB are trademarks of Texas Instruments Incorporated.
SN54ABT8543功能图
SN54ABT8543规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 8 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -24 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Military |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
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