带18位通用总线收发器的LVTH18502A和LVTH182502A扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
此外,这些器件专为低压(3.3 v) VCC操作而设计,但具有为5v系统环境提供TTL接口的能力。
在正常模式下,这些设备是18位通用总线收发器,结合d型锁存器和d型触发器,它们允许数据在透明、锁存或时钟模式下流动。另一种用途是作为两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可由TAP激活,对出现在器件引脚处的数据进行快照采样,或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE通用总线收发器的功能操作。
每个方向的数据流由输出使能(OEAB和OEBA)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流,当LEAB值高时,设备工作在透明模式。当LEAB低时,a总线数据锁存,而CLKAB保持在静态低或高逻辑电平。否则,如果LEAB较低,则a总线数据存储在CLKAB的低到高转换上。当OEAB\较低时,B输出是活动的。当OEAB\高时,B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流,但使用OEBA\、LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下,抑制SCOPE通用总线收发器的正常工作,使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时,测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
提供有源总线保持电路以将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑电平。
LVTH182502A的b端口输出,其设计为源或吸收高达12 mA,包括25系列电阻,以减少过调和欠调。
SN54LVTH18502A和SN54LVTH182502A的特点是在- 55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74LVTH18502A和SN74LVTH182502A的特点是工作温度从- 40°C到85°C。
串联电阻,因此不需要外部电阻SCOPE、Widebus和UBT是德州仪器的商标。

| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 2.7 |
| 电源电压(最大)(V) | 3.6 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 32 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Balanced outputs, Bus-hold, Partial power down (Ioff), Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | LVT |
| 评级 | Military |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
