SN74LVT8980A-EP中文参数_产品特征_原装销售

291 2023-11-05 09:17:40 来源: 网络作者: IC先生

SN74LVT8980A嵌入式测试总线控制器(etbc)是TI广泛的可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路组件的测试。与该系列的大多数其他设备不同，etbc不是可边界扫描的设备;。因此，etbc能够实际有效地使用IEEE Std 1149.1测试访问基础设施来支持板级和系统级的嵌入式/内置测试、仿真和配置/维护设施。

etbc控制支持4线或5线IEEE Std 1149.1串行测试总线所需的所有TAP信号:测试时钟(TCK)，测试模式选择(TMS)，测试数据输入(TDI)，测试数据输出(TDO)和测试复位(TRST)。。然而，除了直接连接外，TMS、TDI和TDO信号还可以通过管道连接到远程目标IEEE Std 1149.1设备，其重定时延迟可达15 TCK周期;。

从概念上讲，etbc作为简单的8位内存或I/ o映射外设运行到微处理器/微控制器(主机)。。当etbc不能立即响应请求的读/写操作时，提供异步就绪(RDY)指示器来阻止或插入等待状态到主机读/写周期中。

高级命令由主机发出，使etbc生成TMS序列，以将测试总线从任何稳定的TAP控制器状态移动到任何其他这样的稳定状态，通过目标设备中的测试寄存器扫描指令或数据，和/或在运行-测试/空闲TAP状态下执行指令。可以对32位计数器进行编程，以允许预先确定的扫描或执行周期数。

在扫描操作期间，出现在TDI输入端的串行数据被传输到一个串行4 × 8位并行先进先出(FIFO)读取缓冲区中，然后主机可以读取该缓冲区以获得每次最多8位的返回串行数据流。要从TDO输出传输的串行数据由主机写入，每次最多8位，到4 × 8位与串行FIFO并行的写入缓冲区。

除了这些简单的状态移动、扫描和运行测试操作之外，etbc还支持几个额外的命令，这些命令提供了仅输入扫描、仅输出扫描、循环扫描(其中TDI被镜像回TDO)，以及一种扫描模式，该模式使用TI的可寻址扫描端口生成用于支持多滴TAP配置的协议。还支持两种环回模式，允许微处理器/微控制器主机监视etbc输出的TDO或TMS数据流。

etbc灵活的时钟架构允许用户在自由运行(TCK始终遵循CLKIN)和门控模式(TCK输出保持静态，除了在状态移动，运行测试或扫描周期)之间进行选择，以及从CLKIN中划分TCK。离散模式也可用，其中TAP在微处理器/微控制器主机的完全控制下严格由读/写周期驱动。这些特性确保了几乎任何IEEE标准1149.1目标设备或设备链都可以由etbc服务，即使这些设备或设备链可能不完全符合IEEE标准1149.1。

虽然etbc的大多数操作与CLKIN同步，但为TAP输出的输出控制提供了一个测试输出启用(TOE)，为etbc的硬件复位提供了一个复位(RST)输入。前者可用于禁用etbc，以便外部控制器可以掌握相关的IEEE Std 1149.1测试总线。

SN74LVT8980A-EP的特性

控制基线
- 一个装配/测试场地，一个制造场地
增强的减少制造源(DMS)支持
增强的产品变更通知
资格的血统
支持IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口(TAP)和边界扫描架构的德州仪器广泛可测试性产品系列的成员
提供内置访问IEEE标准1149.1扫描可访问的测试/维护设备在板和系统级别
在3.3 V供电时，TAP接口完全耐受5-V，可以同时控制5-V和/或3.3 V IEEE标准1149.1目标
通过8位异步读/写数据总线与低成本3.3 v微处理器/微控制器的简单接口
通过扫描级命令集和智能TAP控制轻松编程
Transparently Generate Protocols to Support Multidrop TAP Configurations Using TI’s Addressable Scan Port
灵活的TCK发生器提供可编程划分，门控TCK和自由运行-TCK模式
离散TAP控制模式支持任意TMS/TDI序列不兼容的目标
可编程32位测试周期计数器允许几乎无限的扫描/测试长度
适应目标重定时(管道)延迟高达15 TCK周期
测试输出使能(TOE)\允许外部控制TAP信号
High-Drive Outputs (–32-mA I_哦， 64-mA I_OL)在TAP支持背板接口和/或高扇出